工业通用技术及设备论文_强辐射环境下CMOS图像
文章目录
1 辐照试验
1.1 试验样品与试验条件
1.2 相机参数测试方法
2 实验结果与讨论
2.1 CIS暗电流随电离总剂量的变化
2.2 相机分辨率随电离总剂量的变化
1) 噪点数量和相机分辨率函数关系的推导过程
2) 相机噪点数据处理与分析
3) 相机分辨率数据分析处理与分析
3 结论
文章摘要:CMOS图像传感器（CIS, CMOS image sensor）相机是照相装置中常用的成像设备。在核工业环境下的监控过程中,CIS易受γ辐射影响产生噪声,影响图像的成像分辨率,有必要从系统角度评估CIS相机抗辐照能力。通过利用60Co-γ放射源对CIS相机进行辐照实验,分别得到了典型CIS相机的噪声与图像分辨率和辐射剂量的函数关系,进而求出满足相应分辨率条件下CIS相机的辐照剂量上限。研究结果显示,对于相机成像图片目标区域的最小灰度值区域噪声数量占比σ≤2%,CIS相机电离总剂量（total ionizing dose, TID）小于150 krad（Si）,相机分辨率没有明显降低。并且在通过ISO12233:2014 E-SFR测试相机分辨率中发现,利用基于楔形图获取混淆的开始频率测试法评估辐照相机分辨率参数比SFR测试法更具合理性。
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